Mercoledì 10 maggio dalle ore 9.30, nel laboratorio di “Microscopia Elettronica” di ATeN Center – Advanced Technologies Network Center, si tiene il training di approfondimento sulle “potenzialità e l’utilizzo della Microscopia Elettronica a Scansione (SEM): microscopio FEI-THERMOFISHER VERSA 3D”. 

La formazione – a cura del dott. Giorgio Nasillo e del prof Vincenzo La Carrubba - prevede un approfondimento teorico-pratico sui fondamenti della tecnica, una dimostrazione pratica con lo strumento FEI ThermoFisher Versa 3D e una sessione di training “avanzato” per utenti che abbiano già partecipato ad una sessione “base”.

Il training è destinato a professori, ricercatori, assegnisti, borsisti e dottorandi dell’Università degli Studi di Palermo interessati ad acquisire una formazione teorico-pratica e a svolgere esperimenti sul campo. 

L'incontro è aperto anche agli utenti esterni. C’è tempo sino a venerdì 5 maggio per iscriversi. Per maggiori info consulta il flyer