Venerdì 17 febbraio, dalle 11.00, nel laboratorio di Superfici, Film sottili e Dispositivi di ATeN Center – Advanced Technologies Network Center, si tiene il training di approfondimento sulla microscopia a forza atomica (AFM).

La formazione, a cura del prof. Gianpiero Buscarino, approfondisce le tecniche che possono essere sviluppate nel campo dell’analisi di superfici di campioni solidi o nano-sistemi 0D, 1D e 2 D depositati su substrato (sistemi biologici, semiconduttori, metalli, isolanti, polimeri, etc.).

Il training è destinato a professori, ricercatori, assegnisti, borsisti e dottorandi dell’Università degli Studi di Palermo interessati ad acquisire una formazione teorico-pratica e a svolgere esperimenti sul campo. L'incontro è aperto anche agli utenti esterni.

È possibile iscriversi entro mercoledì 15 febbraio. Per maggiori info consulta la locandina