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GIANPIERO BUSCARINO

Structural modifications induced by electron irradiation in SiO2 glass: Local densification measurements

  • Autori: Buscarino, G; Agnello, S; Gelardi, FM
  • Anno di pubblicazione: 2009
  • Tipologia: Articolo in rivista (Articolo in rivista)
  • Parole Chiave: Electron and positron radiation effects, Glasses, Point defects and defect clusters
  • OA Link: http://hdl.handle.net/10447/44506