Giovedì 3 marzo, dalle 11.00, si tiene online sulla piattaforma Teams l'iniziativa dal titolo “Training AFM: Microscopia a Forza Atomica” a cura del prof. Gianpiero Buscarino del Laboratorio di Superfici, Film Sottili e Dispositivi di ATeN Center - Advanced Technologies Network Center.

L'incontro, che affronta il tema della microscopia a forza atomica (AFM) e la sua applicazione per l’analisi di superfici di campioni solidi o nano-sistemi 0D, 1D e 2D depositati su substrato, si propone di fornire una formazione teorico-pratica sui fondamenti della tecnica.

Il training è destinato a ricercatori, dottorandi, borsisti, assegnisti, contrattisti dell’Università degli Studi di Palermo e ha la finalità di far conoscere le attrezzature presenti in ATeN Center e le loro possibili applicazioni, nonché di promuovere e stimolare l’interesse ad utilizzare tali attrezzature da parte dei giovani per la loro ricerca in condizioni di free service.
L'incontro è aperto anche agli utenti esterni.

Per maggiori info sulle attività e sulle modalità di iscrizione consulta il programma