Training AFM "Microscopia a Forza Atomica"
L’evento dal titolo “Training AFM: Microscopia a Forza Atomica” si terrà il 03 marzo 2022, e verterà sulla microscopia a forza atomica (AFM) e sulla sua applicazione per l’analisi di superfici di campioni solidi o nano-sistemi 0D, 1D e 2D depositati su substrato (sistemi biologici, semiconduttori, metalli, isolanti, polimeri…). Il training è volto a fornire una formazione teorico-pratica sui fondamenti di questa tecnica ed allo svolgimento di esperimenti reali.
Il training sarà tenuto interamente a distanza dal prof. Gianpiero Buscarino del Laboratorio di Superfici, Film Sottili e Dispositivi, attraverso la piattaforma TEAMS.
Le attività di training sono destinate a ricercatori, dottorandi, borsisti, assegnisti, contrattisti dei Dipartimenti dell’Ateneo e hanno la finalità di far conoscere le attrezzature presenti nel Centro e le loro possibili applicazioni, nonché di promuovere e stimolare l’interesse ad utilizzare tali attrezzature da parte dei giovani per la loro ricerca in condizioni di free service.
