Microscopia Elettronica a Scansione - SEM training
Mercoledì 10 maggio, dalle 9.30, nel laboratorio di Microscopia Elettronica di ATeN Center – Advanced Technologies Network Center, si tiene il training di approfondimento sul tema “Potenzialità e l’utilizzo della Microscopia Elettronica a Scansione (SEM): microscopio FEI-ThermoFisher Versa 3D”.
La formazione, a cura del dott. Giorgio Nasillo e del prof Vincenzo La Carrubba, prevede una formazione teorico-pratica sui fondamenti della tecnica, una dimostrazione pratica con lo strumento FEI ThermoFisher Versa 3D e una sessione di training avanzato per utenti che abbiano già partecipato ad una sessione base.
Il training è destinato a professori, ricercatori, assegnisti, borsisti e dottorandi dell’Università degli Studi di Palermo interessati ad acquisire una formazione teorico-pratica e a svolgere esperimenti sul campo. L'incontro è aperto anche agli utenti esterni.
È possibile iscriversi entro venerdì 5 maggio. Per maggiori info consulta la locandina